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光学冷加工设备介绍-k8凯发
日期：2022-11-09 09:03
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摘要：
k8凯发-凯发官网入口的应用极为广泛，主要有如下几方面：
长度测量
在双光束光学冷加工设备中，若介质折射率均匀且保持恒定，则干涉条纹的移动是由两相干光几何路程之差发生变化所造成，根据条纹的移动数可进行长度的**比较或**测量。迈克耳孙光学冷加工设备和法布里-珀罗光学冷加工设备曾被用来以镉红谱线的波长表示国际米。
折射率测定
两光束的几何路程保持不变，介质折射率变化也可导致光程差的改变，从而引起条纹移动。瑞利光学冷加工设备就是通过条纹移动来对折射率进行相对测量的典型光学冷加工设备。应用于风洞的马赫-秦特光学冷加工设备被用来对气流折射率的变化进行实时观察。
波长的测量
任何一个以波长为单位测量标准米尺的方法也就是以标准米尺为单位来测量波长的方法。以国际米为标准，利用光学冷加工设备可**测定光波波长。法布里-珀罗光学冷加工设备（标准具）曾被用来确定波长的初级标准（镉红谱线波长）和几个次级波长标准，从而通过比较法确定其他光谱线的波长。
检验光学元件
泰曼光学冷加工设备被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量。在泰曼光学冷加工设备的一个光路中放置待检查的平板或棱镜，平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反映到干涉图样上。若在光路中放置透镜，可根据干涉图样了解由透镜造成的波面畸变，从而评估透镜的波像差。
引力波测量
干涉仪也可以用于引力波探测(saulson, 1994)。 激光干涉仪引力波探测器的概念是前苏联科学家gertsenshtein和pustovoit在1962年提出的（gertsenshtein和pustovoit 1962） 。 1969年美国科学家weiss和forward则分别在1969年即于麻省理工和休斯实验室建造初步的试验系统（weiss 1972） 。 截止今日，激光干涉仪引力波探测器已经发展了40余年。 目前ligo激光干涉仪实验宣称**直接测量到了引力波 (ligo collaboration 2016) 。 ligo可以认为是两路光线的干涉仪， 而另外一类引力波探测实验， 脉冲星测时阵列则可认为是多路光线干涉仪（hellings 和downs, 1983）。